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納米粒度儀及電位分析儀

APS-100高濃度納米粒度儀 Zeta-APS電位分析儀 ZetaZF400-電位分析儀 ZetaZA500-電位分析儀原液在線檢測(cè)分析儀 CHDF3000高分辨納米粒度儀 CHDF4000高分辨納米粒度儀納米粒度儀分析儀

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APS-100型APS-100高濃度納米粒度儀

更新時(shí)間：2020-04-01

型號(hào)：APS-100型

瀏覽量：3675

APS-100高濃度納米粒度儀，APS 從聲衰減光譜測(cè)量產(chǎn)生PSD數(shù)據(jù)，不需要稀釋樣品。APS還測(cè)量粒度范圍的10納米到100微米的樣品的聲音速度譜、pH、電導(dǎo)率和溫度。
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Zeta-FinderZF400型ZetaFinder ZF400 高濃度Zeta電位分析儀

更新時(shí)間：2020-03-20

型號(hào)：Zeta-FinderZF400型

瀏覽量：4254

ZetaFinder ZF400 高濃度Zeta電位分析儀采用專門的電動(dòng)聲波振蕩技術(shù)，該儀器可完成非凡的電動(dòng)測(cè)量結(jié)果，從而避免了傳統(tǒng)的微電泳技術(shù)的許多限制和局限，該儀器可同時(shí)測(cè)量Zeta電位、PH、電導(dǎo)、溫度等指標(biāo)。樣品在測(cè)量時(shí)甚至可以進(jìn)行滴定操作；
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ZetaAPS型高濃度納米粒度儀及zeta電位分析儀

更新時(shí)間：2021-08-19

型號(hào)：ZetaAPS型

瀏覽量：4230

Zeta-APS 高濃度納米粒度及Zeta電位分析儀$nZeta-ASP是高濃度膠體和乳液的特性參數(shù)檢測(cè)儀，可以測(cè)試：粒徑、Zeta電位、滴定、電導(dǎo)等。$n此儀器容易使用、測(cè)量精確。對(duì)于高達(dá)60%（體積）濃度的樣品，也無需進(jìn)行稀釋或樣品前處理，即可直接測(cè)量甚至對(duì)于漿糊凝膠、水泥以及用其它儀器很難測(cè)量的材料都可直接進(jìn)行測(cè)量。
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ZetaAcoustic ZA500 高濃度Zeta電位分析儀

更新時(shí)間：2020-11-25

型號(hào)：

瀏覽量：5122

ZetaAcoustic ZA500 高濃度Zeta電位分析儀$n美國(guó)MAS公司成立至今有30余年歷史，專注于超聲電聲法原理顆粒度檢測(cè)、 Zeta電位分析儀的研發(fā)生產(chǎn)。超聲法原理測(cè)試樣品的顆粒分布，是采用聲波發(fā)生器發(fā)出一定頻率和強(qiáng)度的超聲波在樣品中傳播，由于不同大小粒徑對(duì)聲波的吸收、散射作用不同，導(dǎo)致聲波衰減程度不同。根據(jù)顆粒大小和聲波衰減之間的函數(shù)關(guān)系，得到顆粒的粒度分布。
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CHDF3000型高分辨率納米粒度儀

更新時(shí)間：2020-03-19

型號(hào)：CHDF3000型

瀏覽量：3430

高分辨率納米粒度儀 1】高分辨率粒度分布（PSD）測(cè)量新的技術(shù)，包括顆粒檢測(cè)高靈敏度、動(dòng)態(tài)范圍和納米顆粒優(yōu)化分析。 2】粒子分餾的真實(shí) PSD 數(shù)據(jù)。無需對(duì)粒徑分布的形狀進(jìn)行假設(shè)。 3】精確非均勻樣品分析—包括納米顆?！?dú)w功于其與顆粒密度無關(guān)的分析。 4】自動(dòng)/無人操作。所有組件都在一個(gè)簡(jiǎn)易單一窗口界面控制和操作。
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AREPA型原液zeta電位分析儀

更新時(shí)間：2020-11-25

型號(hào)：AREPA型

瀏覽量：3663

AREPA原液在線納米粒度儀$n在線粒度測(cè)量，工業(yè)加工狀態(tài)，不必稀釋樣品經(jīng)硬件設(shè)計(jì)可全（24 hours/7 days）候運(yùn)作，無需移動(dòng)部件實(shí)時(shí)控制的快速測(cè)量
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CHDF4000型高分辨率納米粒度儀

更新時(shí)間：2020-03-19

型號(hào)：CHDF4000型

瀏覽量：3662

高分辨率納米粒度儀 CHDF4000是基于光散原理的儀器，使用新的技術(shù)對(duì)高分辨率的粒度分布（PSD）進(jìn)行測(cè)量，包括高粒子檢測(cè)靈敏度、動(dòng)態(tài)范圍、納米粒子的優(yōu)化分析；
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CHDF4000型CHDF4000納米粒度儀及成分分析儀

更新時(shí)間：2020-03-26

型號(hào)：CHDF4000型

瀏覽量：2216

CHDF4000納米粒度儀及成分分析儀 CHDF4000是基于光散原理的儀器，使用新的技術(shù)對(duì)高分辨率的粒度分布（PSD）進(jìn)行測(cè)量，包括高粒子檢測(cè)靈敏度、動(dòng)態(tài)范圍、納米粒子的優(yōu)化分析； CHDF4000可提供完整范圍5納米至NM3微米，真實(shí)的PSD數(shù)據(jù)；通過粒子分離真正的PSD數(shù)據(jù)，關(guān)于粒子大小分布的形狀不需要假設(shè)；自動(dòng)化操作，通過一個(gè)人性化界面即可完成全部操作
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